发布时间：
2016
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量測低頻 RFID 標籤的特性使用 Keysight N9322C 基礎頻譜分析儀（BSA） 摘要無線射頻識別（RFID）標籤的共振頻率是決定標籤和讀取器之間有效通訊距離的關鍵因素。藉由使用 Agilent N9322C 基礎頻譜分析儀（BSA），您可輕而易舉地量測 RFID 標籤的共振頻率。 RFID 標籤簡介RFID 標籤是一種結合無線接收器和發射器的小型轉發器，同時也是無線射頻識別（RFID）系統的關鍵元件，負責在短距離內傳送身份識別資訊。一般而言，RFID 標籤包含兩個部分，一部分是積體電路，用來儲存和處理資訊，並且調變和解調變 RF 信號。另一部分是天線，用來接收信號並發送到讀取器（參見圖 1）。RFID 標籤的共振頻率是影響讀取器和 RFID 標籤之間有效通訊距離的關鍵因素之一。工程師可用非接觸式耦合方法量測封裝後之 RFID 標籤的共振頻率。該頻率會反應回返損耗特性曲線的負峰值。 N9322C 是通用的射頻分析儀，可提供頻譜分析、傳輸量測，以及反射量測等擴充功能。此外，只要添加信號追蹤產生器（選項 TG7）和反射量測應用軟體（選項 RM7），N9322C BSA 還可以測試 RFID 標籤的回返損耗特性：• 選項 TG7 信號追蹤產生器包含一個內建的 VSWR 電橋，讓您能輕鬆使用 N9322C BSA 執行反射量測。相較之下，其他分析儀需使用外部電橋才能進行相同的量測。• 另外，N9322C 的反射量測模式採用精密的開路 - 短路 - 負載（OSL）校驗程序，大大減少了系統誤差。 N9322C 基礎頻譜分析儀（BSA）是經濟有效的通用型射頻分析儀，除了提供通用的頻譜分析功能外，還提供單埠向量網路分析，以及選配的信號追蹤產生器和內建的 VSWR 電橋。在 RFID 設計過程中，您可使用...