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发布时间: 2018 - 06 - 28
改善噪声系数测量的三个技巧是德科技KEYSIGHT 昨天『噪声系数』又称『噪声因数』是许多接收机和射频系统的关键性能参数噪声系数测量不确定度是实现高良品率和低成本的关键因素“三个技巧”将帮助您在测量低噪声放大器、混频器和变频器的噪声系数性能时,显著改善 测量不确定度提高 良品率 降低 成本   技巧(一)使用噪声系数不确定度计算器进行快速计算不确定度的计算不仅复杂,而且相当耗时。幸运的是,使用计算器可以更简单、更快速地完成此项工作。计算测量不确定度,最快的方式是使用内置有不确定度计算器的信号分析仪,在一键式噪声系数测量应用中经常会用到这种分析仪。不确定度计算器直接在仪器显示屏上报告当前测量的总体不确定度。凭借内置的不确定度计算器X系列噪声系数测量应用软件可以加速并简化测量过程▼   技巧(二)尽量选择不确定度更低的噪声源由于 ENR 不确定度是影响总体测量精度的最大因素,因此对于您的特定应用来说,应该尽量选择不确定度更低的噪声源。是德科技 SNS 系列智能噪声源不仅性能出众,而且可以简化测量设置。当连接到兼容的信号分析仪时,SNS 会自动将存储的校准数据下载到信号分析仪,并补偿温度漂移。比较总体噪声系数测量不确定度结果显示 SNS 比标准噪声源更好▼   技巧(三)使用前置放大器当噪声系数测量系统中使用了信号分析仪时,建议使用前置放大器来改善分析仪的噪声系数。如果 DUT 具有非常高的增益,那么它可以驱动信号分析仪进行压缩。在大多数应用中,包括 DUT 的噪声和增益都很低的情况下,前置放大器都有助于减少测量不确定度。在 DUT 和分析仪之间使用智能前置放大器可以提高噪声系数性能▼使用 X 系列信号分析仪进行高质量的噪声系数测量每个技巧都有助于您降低噪声系数测量的不确...
发布时间: 2018 - 06 - 28
手把手教你:如何应对发射机测试的五大挑战任何无线系统的开发都是很艰巨的任务,会受到严格的限制,并且因为要做出许多权衡而变得更加复杂。要在市场上取得成功,必须不断地提升性能、降低成本和加快上市时间。不管是面向器件、子系统还是整个无线系统,您都会在 RF 测试中遇到非常棘手的难题。为此,本应用指南提供了针对性的解决方案旨在帮您应对以下五大挑战:挑战“1”1.1~确保符合复杂的标准和规范移动数据和语音业务都在持续要求更大的通道容量而无线局域网通常也是如此在开发商们推出各种技术以便满足这些需求的同时每种技术又给发射机测试带来了更多挑战在设置分析仪进行一致性测量时这也同样成为分析仪所面临的挑战!1.2~进行通用和专用标准的测量围绕主要的无线标准信号分析仪可以配备几十种不同的测量应用如下图示例界面:▲ 测量软件可以分屏显示多项测量,从而帮助用户更全面地了解信号质量和特性。在这个 LTE 测量界面中,包括了星座图、检测到的定位信息,帧报告以及总体误差报告。为了优化和便于故障排除,还对不同通道类型的测量结果设置了不同颜色。▲ 在对现代无线系统进行 ACPR/ACLR 测量时,具体设置非常复杂。图中使用了非连续载波聚合,在配置中包含累积 ACLR 时,复杂程度尤为明显。▲ 在这个 WLAN 信号的 OFDM EVM 多项测量显示图中,涵盖了四种迹线信息:EVM 与符号、EVM 与子载波、星座图以及EVM 表格指标在所有的分析仪上:◎  这些软件都采用了一致的、且经是德科技依照相关标准进行了验证的测量算法;◎  当标准出现修订和扩展之后,这些应用软件将会得到同步更新;◎  算法和应用界面都是共享的,因此用户很容易熟悉和上手,可以有效地减少培训和编程时间。挑战“2”对复杂信号进行全面、精确的射频功率测量在开...
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秘笈:让您的示波器测量质量提升 1000 倍的绝招!

日期: 2016-03-09
浏览次数: 776

 

您是否希望示波器测量尽可能最好?不要满足于普通的测量;只需正确选择信号的显示刻度,即可显著提升测量质量。为什么? 因为示波器的采样率和分辨率在测量中同样重要。


采样率受示波器水平刻度的影响。其公式为:

采样率 = 存储深度/采集时间长度


存储深度是一个恒定值,采集时间长度(或迹线长度)是一个变量,取决于您的每格时间设置。随着时间/格设定值增加,采集时间长度增加。由于这一切都必须适应示波器的存储深度,在某一点上,示波器的 ADC 将不得不降低采样率。这实际上意味着什么?我们以 100 kHz 方波的频率测量为例。我们知道频率为 100 kHz 且非常稳定,因此我们可以利用测量结果的标准方差来判断测量的质量。图 1 将 100 kHz 方波的水平显示刻度设置为满刻度 20 毫秒。并且,示波器的采样率已自动从 5 GSa/秒下降到 100 MSa/秒,以使整个迹线能够保存到示波器的存储器中。在大约 1500 次测量后,测量的标准方差为 1.49 kHz(约 1.5%)。


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但是,如果我们选择更小的时间/格设置值,有效缩短采集时间长度并提高采样率,看看会发生什么。图 2 所示为同一信号,但水平刻度设为 1.2 微秒/格。标准方差现为 1.5 Hz,是我们之前测量结果的千分之一。



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所改变的只是信号的水平刻度以及示波器的采样率。因此,选择适当的示波器水平刻度,对于时间相关测量的质量有很大的影响。


与水平刻度对时间相关测量有影响一样,垂直刻度也会对垂直相关测量(电压峰峰值、RMS 等)产生影响。我们再次以同样的 100 kHz 方波为例,来看看峰峰值电压。图 3 中的信号定标为 770 毫伏/格。测量结果峰峰值的标准方差为 18 毫伏。将示波器的伏/格设置降至 66 毫伏/格,则测量结果的标准方差变成 1.22 毫伏。这几乎改善了 15 倍!



 

 

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垂直刻度设置为什么会起到作用?通过设置信号刻度,使之尽可能填满屏幕,我们就能完全利用示波器的分辨率优势。分辨率是 ADC 能够达到多高精度的标志。分辨率越高, ADC 能检测的垂直电平数量越多。例如,下图所示为一个 2 位 ADC。红色正弦波是 ADC 的模拟输入,蓝色波形是数字化输入。您可以看到,出现了四个不同的量化电平。



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此图所示为 3 位 ADC 对同一模拟波形进行数字化处理的结果。量化电平数越多, ADC 的数字输出就越接近模拟输入。



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如果垂直定标的信号只填充了示波器屏幕的一部分,那么您实际上没有充分利用 ADC 的分辨率。例如,如果您将信号定标至占据 3 位 ADC 屏幕的一半,那么在信号上方和下方您会分别留下两个未使用的量化电平。这意味着,您的 3 位 ADC 只能使用四个量化电平,相当于一个 2 位 ADC 的精度。


了解如何正确地设置示波器信号显示刻度,能极大地改善您的测量质量。适当的水平定标会显著改善时间相关测量的质量,而适当的垂直定标则会对垂直相关测量产生积极影响。下一次使用示波器时,请记住:正确设置信号刻度,可以获得最佳的测量结果! 

 

 

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