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发布时间: 2018 - 06 - 28
改善噪声系数测量的三个技巧是德科技KEYSIGHT 昨天『噪声系数』又称『噪声因数』是许多接收机和射频系统的关键性能参数噪声系数测量不确定度是实现高良品率和低成本的关键因素“三个技巧”将帮助您在测量低噪声放大器、混频器和变频器的噪声系数性能时,显著改善 测量不确定度提高 良品率 降低 成本   技巧(一)使用噪声系数不确定度计算器进行快速计算不确定度的计算不仅复杂,而且相当耗时。幸运的是,使用计算器可以更简单、更快速地完成此项工作。计算测量不确定度,最快的方式是使用内置有不确定度计算器的信号分析仪,在一键式噪声系数测量应用中经常会用到这种分析仪。不确定度计算器直接在仪器显示屏上报告当前测量的总体不确定度。凭借内置的不确定度计算器X系列噪声系数测量应用软件可以加速并简化测量过程▼   技巧(二)尽量选择不确定度更低的噪声源由于 ENR 不确定度是影响总体测量精度的最大因素,因此对于您的特定应用来说,应该尽量选择不确定度更低的噪声源。是德科技 SNS 系列智能噪声源不仅性能出众,而且可以简化测量设置。当连接到兼容的信号分析仪时,SNS 会自动将存储的校准数据下载到信号分析仪,并补偿温度漂移。比较总体噪声系数测量不确定度结果显示 SNS 比标准噪声源更好▼   技巧(三)使用前置放大器当噪声系数测量系统中使用了信号分析仪时,建议使用前置放大器来改善分析仪的噪声系数。如果 DUT 具有非常高的增益,那么它可以驱动信号分析仪进行压缩。在大多数应用中,包括 DUT 的噪声和增益都很低的情况下,前置放大器都有助于减少测量不确定度。在 DUT 和分析仪之间使用智能前置放大器可以提高噪声系数性能▼使用 X 系列信号分析仪进行高质量的噪声系数测量每个技巧都有助于您降低噪声系数测量的不确...
发布时间: 2018 - 06 - 28
手把手教你:如何应对发射机测试的五大挑战任何无线系统的开发都是很艰巨的任务,会受到严格的限制,并且因为要做出许多权衡而变得更加复杂。要在市场上取得成功,必须不断地提升性能、降低成本和加快上市时间。不管是面向器件、子系统还是整个无线系统,您都会在 RF 测试中遇到非常棘手的难题。为此,本应用指南提供了针对性的解决方案旨在帮您应对以下五大挑战:挑战“1”1.1~确保符合复杂的标准和规范移动数据和语音业务都在持续要求更大的通道容量而无线局域网通常也是如此在开发商们推出各种技术以便满足这些需求的同时每种技术又给发射机测试带来了更多挑战在设置分析仪进行一致性测量时这也同样成为分析仪所面临的挑战!1.2~进行通用和专用标准的测量围绕主要的无线标准信号分析仪可以配备几十种不同的测量应用如下图示例界面:▲ 测量软件可以分屏显示多项测量,从而帮助用户更全面地了解信号质量和特性。在这个 LTE 测量界面中,包括了星座图、检测到的定位信息,帧报告以及总体误差报告。为了优化和便于故障排除,还对不同通道类型的测量结果设置了不同颜色。▲ 在对现代无线系统进行 ACPR/ACLR 测量时,具体设置非常复杂。图中使用了非连续载波聚合,在配置中包含累积 ACLR 时,复杂程度尤为明显。▲ 在这个 WLAN 信号的 OFDM EVM 多项测量显示图中,涵盖了四种迹线信息:EVM 与符号、EVM 与子载波、星座图以及EVM 表格指标在所有的分析仪上:◎  这些软件都采用了一致的、且经是德科技依照相关标准进行了验证的测量算法;◎  当标准出现修订和扩展之后,这些应用软件将会得到同步更新;◎  算法和应用界面都是共享的,因此用户很容易熟悉和上手,可以有效地减少培训和编程时间。挑战“2”对复杂信号进行全面、精确的射频功率测量在开...
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是德科技实现技术新突破,即将推出带宽超过100GHz的实时和采样示波器

日期: 2016-03-05
浏览次数: 393

 

随着新芯片组技术上的突破,是德科技将可提供带宽超过 100 GHz 的实时和采样示波器

 

亮点:

  • 在高频率时,频响更为平坦

  • 通过低噪声、绝缘基片获得更高的测量精度

  • 较低的功率损耗带来更高的可靠性

 

2016年3月1日 是德科技,北京

 

是德科技公司(NYSE:KEYS)今日宣布,其磷化铟(InP)半导体技术在芯片组上的应用取得重大突破,即将推出具备更高带宽的示波器。凭借新的芯片组,是德科技将在 2017 年推出更高带宽的实时和采样示波器(带宽将高于 100 GHz);本底噪声也会远远好于当前市面上的其他示波器产品。

 

在新的示波器系列中,带宽并不是唯一的重大技术突破。实时示波器将会兼具其他重要创新,比如支持最新的 10 位ADC(可在超高带宽上以更高的垂直分辨率捕获信号),每台示波器可支持多个最大带宽输入通道(可实现更紧密的通道同步)。是德科技能够取得这些成绩,主要归功于其在微波半导体设计与封装、示波器架构以及工厂制造技术领域独一无二的专业优势。 

 

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是德科技高级副总裁兼首席技术官 Jay Alexander 表示:“是德科技将继续致力于磷化铟工艺的创新,以提供领先性能,满足客户的测量需求。我们在微波半导体技术方面的专业知识使我们可以提供下一代磷化铟工艺,从而在实时和采样示波器的性能方面取得重大技术突破,并且该工艺此后还将为是德科技的其他产品带来巨大进展。”


工程师们正致力于下一代高速接口的研究,例如即将来临的 IEEE P802.3bs 400G、以及太兆位相干光调制。在此过程中,需要用示波器进行电气参数测量。这些技术和其他技术将在验证第五代(5G)无线设计的过程中发挥关键作用。新的接口将会驱动对 100 GHz 及以上的高性能、实时和等效时间信号分析的需求。当数据速率继续扩展至 56 Gb/s NRZ 和 56 GBaud 多级信令以上时,工程师不仅需要更高的带宽,还需要更高的垂直分辨率和更低的本底噪声,来应对他们的验证挑战。


六年前,是德科技推出了首款采用专有 InP 半导体工艺芯片组的示波器,时至今日,是德科技仍是唯一可生产 InP 芯片组示波器的公司。凭借在下一代 InP 工艺上的大力投入,是德科技已将晶体管的转换频率提高至 300-GHz 水平,在芯片和终端产品方面均能支持更高的带宽。

 


 

是德科技副总裁兼示波器事业部总经理 Dave Cipriani 说:“我们正投资于全新的技术链,以满足客户的下一波测量需求,我们的目标是在多个性能参数上取得同步突破。下一代示波器的带宽将从 80 GHz 开始,并将超过 100 GHz。新示波器将拥有更低的噪声密度,可在紧密同步的多通道系统中提供更高分辨率的测量。无论客户是要测量更高的波特率、更高阶的 QAM 信号还是多通道系统,下一代示波器均能满足他们的需求。”

 

此项宣布将开启是德科技示波器感恩月。整个感恩月既是庆祝技术突破的盛会,也是工程师们的庆功会。此外,示波器感恩月(2016 年 3 月)还将推出新的示波器测量技巧与内容,让用户与测量专家交流,以及每日赠送示波器。

 

是德科技目前提供的高性能 Infiniium Z 系列示波器,其带宽高达 63 GHz;多通道等效时间示波器的带宽超过 70 GHz。更多信息请参见是德科技示波器。

 

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